СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ СТРУКТУРНЫХ ПРЕДСТАВЛЕНИЙ ИЗОБРАЖЕНИЙ НА ОСНОВЕ ПРИНЦИПА РЕПРЕЗЕНТАЦИОННОЙ МИНИМАЛЬНОЙ ДЛИНЫ ОПИСАНИЯ
Аннотация:
На основе ранее предложенного принципа репрезентационной минимальной длины описания (РМДО), предназначенного для количественной оценки степени инвариантности представлений изображений, произведен сравнительный анализ нескольких алгоритмов сегментации, строящих контурные описания изображений, а также нескольких алгоритмов построения структурных описаний изображений с использованием различных алфавитов структурных элементов. Обоснована адекватность использования принципа РМДО при сравнении инвариантности представлений изображений. Установлено, что оптимальные алгоритмы сегментации различаются для разных выборок изображений (например, аэрокосмических или полученных внутри помещений). На основе объективного критерия впервые строго обоснована целесообразность использования в качестве структурных элементов отрезков прямых линий и сегментов кривых второго порядка и низкая эффективность кривых более высоких порядков.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- КОРРЕЛЯЦИЯ ЯРКОСТИ В ИК И ВИДИМОМ ДИАПАЗОНАХ ПРИ НАБЛЮДЕНИИ ТЕХНОГЕННЫХ И ПРИРОДНЫХ ОБЪЕКТОВ, НАХОДЯЩИХСЯ В УСЛОВИЯХ ЕСТЕСТВЕННОГО ТЕПЛООБМЕНА
- СЛЭБ-ЛАЗЕР НА ЭРБИЕВОМ СТЕКЛЕ С ПОПЕРЕЧНОЙ ДИОДНОЙ НАКАЧКОЙСЛЭБ-ЛАЗЕР НА ЭРБИЕВОМ СТЕКЛЕ С ПОПЕРЕЧНОЙ ДИОДНОЙ НАКАЧКОЙ
- ОБЪЕКТНО-НЕЗАВИСИМЫЙ ПОДХОД К СТРУКТУРНОМУ АНАЛИЗУ ИЗОБРАЖЕНИЙ
- МЕТОДЫ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ КАЛИБРОВКИ МНОГОКАНАЛЬНЫХ СКАНИРУЮЩИХ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ
- ИНТЕРФЕРОМЕТРЫ СРЕДНЕГО И ДАЛЬНЕГО ИНФРАКРАСНОГО ДИАПАЗОНА СПЕКТРА ИКИ-3,5 И ИКИ-10
- ОПТИЧЕСКАЯ ФТОРИДНАЯ НАНОКЕРАМИКА
- ФОРМИРОВАНИЕ ЗАЩИТНЫХ НАНОРАЗМЕРНЫХ У203-П0КРЫТИЙ НА КРИСТАЛЛОФОСФОРАХ
- ОПТИЧЕСКИЕ, ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЕ И СЦИНТИЛЛЯЦИОННЫЕ СВОЙСТВА ZnO- И ZnOiGa-КЕРАМИК
- МОДОВЫЙ СОСТАВ ДЫРЧАТЫХ волокон С БОЛЬШОЙ СЕМИЭЛЕМЕНТНОЙ СЕРДЦЕВИНОЙ
- НОВЫЕ ПОКРЫТИЯ ДЛЯ ЗАЩИТЫ ОТ ВЛАГИ ИЗДЕЛИЙ ИЗ СТЕКЛА И КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ
- ПРИМЕНЕНИЕ КООРДИНАТНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ МАШИН ДЛЯ ОПТИМИЗАЦИИ ТЕХНОЛОГИИ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ФОРМООБРАЗОВАНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ