ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ ОПТИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ ЭЛЕМЕНТОВ ОПТОЭЛЕКТРОНИКИ
Аннотация:
Рассмотрены методы эллипсометрического анализа поляризационно-оптических свойств элементов оптоэлектроники в бесклеевых оптических соединениях. Представлены методы диагностики напряженно-деформированного состояния элементов и определения их оптических характеристик в зоне оптического контакта неоднородных поверхностных слоев.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- ПАРАЛЛЕЛЬНЫЕ АЛГОРИТМЫ МОДЕЛИРОВАНИЯ КОМПЛЕКСНЫХ СЕТЕЙ
- МЕТОД ОБРАБОТКИ РЕЗУЛЬТАТОВ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ НА ОСНОВЕ ВЕКТОРНОГО РЕДУЦИРОВАННОГО ОЦЕНИВАНИЯ
- ОБЕСПЕЧЕНИЕ БЕЗОПАСНОСТИ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ ИНФОРМАЦИОННЫХ СЕТЕЙ
- УПРАВЛЕНИЕ ТРАЕКТОРИЕЙ ДВИЖЕНИЯ АВТОМОБИЛЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ АЛГОРИТМА ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОЙ ОПТИМИЗАЦИИ
- АНАЛИЗ СЛОЖНЫХ МУЛЬТИИЗОБРАЖЕНИЙ В РЕЖИМЕ РЕАЛЬНОГО ВРЕМЕНИ
- ФОРМИРОВАНИЕ ИЗБЫТОЧНОГО ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВЫХ СИСТЕМ УПРАВЛЕНИЯ
- ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ МОДЕЛИ АСИНХРОННОГО ДВИГАТЕЛЯ ПО СПРАВОЧНЫМ ДАННЫМ
- РАЗВИТИЕ ТЕЛЕВИЗИОННЫХ МЕТОДОВ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТРУБ
- МОДУЛЬ УПРАВЛЕНИЯ ЯМР-ТОМОГРАФОМ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВОЗМОЖНОСТИ ОБНАРУЖЕНИЯ ОБЪЕКТОВ НА ОСНОВЕ ПОЛЯРИЗАЦИОННОГО КОНТРАСТА
- ПАРАМЕТРИЧЕСКИЙ МЕТОД ПОСТРОЕНИЯ ЭЛЛИПСА ПОЛЯРИЗАЦИИ ИЗЛУЧЕНИЯ
- УМЕНЬШЕНИЕ ВЛИЯНИЯ ПАРАЛЛАКСА НА ПОГРЕШНОСТЬ СТАБИЛИЗАЦИИ ВИДЕОИЗОБРАЖЕНИЙ
- КОМПЕНСАТОРЫ ДЛЯ НЕСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЗЕРКАЛЬНЫХ ТЕЛЕСКОПОВ
- КОМПОНОВКА МНОГОКАНАЛЬНОЙ АППАРАТУРЫ ИНФРАКРАСНОГО И МИЛЛИМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНОВ
- НЕКОТОРЫЕ СВОЙСТВА КРЕМНИЕВЫХ СТРУКТУР, ПОЛУЧЕННЫХ ЛАЗЕРНЫМ МИКРОСТРУКТУРИРОВАНИЕМ
- ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОСТАВА НЕФТЕВОДОГАЗОВОЙ СМЕСИ МЕТОДОМ ЯДЕРНОГО МАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА