Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:[535.621.375.8]:539
Номер:1 (57)
Скачать PDF909 Кбайт
ФОРМИРОВАНИЕ МОРФОЛОГИИ СИСТЕМЫ SiO2/Si ПОД ДЕЙСТВИЕМ ИЗЛУЧЕНИЯ ЭКСИМЕРНОГО ЛАЗЕРА
Аннотация:
Рассмотрен процесс формирования микро- и наномасштабных периодических структур на поверхности системы SiO2/Si под действием наносекундных лазерных импульсов. При облучении экспериментальных образцов получены волнообразные периодические структуры на поверхности. Исследована зависимость топологии поверхности системы SiO2/Si от плотности энергии лазерного импульса.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- МЕТОД УТОЧНЕНИЯ МОДЕЛЬНЫХ ЗНАЧЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ АТМОСФЕРЫ ДЛЯ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ РАЙОНОВ ПАДЕНИЯ ОТДЕЛЯЕМЫХ ЧАСТЕЙ РАКЕТ-НОСИТЕЛЕЙ
- ТЕХНОЛОГИЯ ОПИСАНИЯ И РАСКОДИРОВАНИЯ МЕТЕОРОЛОГИЧЕСКИХ ДАННЫХ НА ОСНОВЕ АЛГЕБРАИЧЕСКОГО ПОДХОДА
- МАТРИЦЫ АДАМАРА — МЕРСЕННА КАК БАЗИС ОРТОГОНАЛЬНЫХ ПРЕОБРАЗОВАНИЙ ПРИ МАСКИРОВАНИИ ВИДЕОИЗОБРАЖЕНИЙ
- УПРАВЛЕНИЕ ОБЪЕКТАМИ В УСЛОВИЯХ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТИ И ОГРАНИЧЕНИЙ НА АМПЛИТУДУ ВХОДНОГО СИГНАЛА
- СИСТЕМА ЗАЩИТЫ ТУРБОКОМПРЕССОРА ОТ ПОМПАЖА
- СИНТЕЗ И ОПТИМИЗАЦИЯ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ АЛГОРИТМОВ ОБРАБОТКИ СИГНАЛА НА ОСНОВЕ КОРРЕЛЯЦИОННО-ЭКСТРЕМАЛЬНОГО МЕТОДА В ЭЛЕКТРОКАРДИОГРАФИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ
- КРИЗИС ПРОМЫШЛЕННОЙ ТЕХНОЛОГИИ ПРОГРАММИРОВАНИЯ, НЕДЕКЛАРИРОВАННЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ И DON’T CARE
- ПРИМЕНЕНИЕ НЕЙРОСЕТЕВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ РАСХОДА СЫПУЧЕГО ВЕЩЕСТВА
- АЛГОРИТМ ЮСТИРОВКИ СОСТАВНЫХ ЗЕРКАЛ ВЫСОКОАПЕРТУРНЫХ ТЕЛЕСКОПОВ
- МОДЕРНИЗАЦИЯ РЕФРАКТОМЕТРА АББЕ И ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ ПОВЫШЕНИЯ ЕГО ТОЧНОСТИ
- ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЙ ГАЗОАНАЛИЗАТОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ДИОКСИДА АЗОТА
- ВОЗМОЖНАЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЬ МАГНИТНЫХ ДАТЧИКОВ НА ОСНОВЕ ГРАНУЛИРОВАННЫХ СВЕРХПРОВОДНИКОВ