Например, Бобцов

Проблемные вопросы акустической микроскопии и дефектометрии

Сборник тезисов
Конференция:IV Всероссийский конгресс молодых ученых
Раздел:Информационные и интеллектуальные системы и технологии
Рубрика:Информационно-измерительные технологии
Год:2015

Проблемные вопросы акустической микроскопии и дефектометрии

УДК:534.6

Аннотация

С появлением современных материалов и применением новых технологий соединений все существенней встает вопрос о контроле качества изделий ракетно-космической техники. Возникающие дефекты находятся на микроуровне, поэтому необходим переход к микроскопии изделий и увеличение разрешающей способности средств неразрушающего контроля. Для достоверной оценки прочности изделий нужно иметь не только информацию о наличии микродефектов, но и обладать возможностью их измерения. В работе проанализированы современные средства и методы акустической микроскопии и дефектометрии.

Материалы конференций