Например, Бобцов

Анализ отраженных сигналов при измерении наклонной дальности

Сборник тезисов
Конференция:IV Всероссийский конгресс молодых ученых
Раздел:Фотоника, наноматериалы и оптотехника
Рубрика:Оптико-электронное приборостроение
Год:2015

Анализ отраженных сигналов при измерении наклонной дальности

УДК:535:631.373.826

Аннотация

При измерении наклонной дальности отражательные свойства поверхности в общем случае определяются либо отражательной передаточной функцией, либо отражательной импульсной характеристикой поверхности. В работе разработана программа определения отражательной импульсной характеристики сложной структуры подстилающей поверхности в условиях отсутствия и наличия цели. Даны отражательные импульсные характеристики таких поверхностей и отражательных сигналов. Анализ отраженных сигналов показал, что в условиях сложной структуры подстилающей поверхности идентифицировать цели, практически не представленная возможным по отражательному сигналу.

Материалы конференций