Цель работы - исследование оптико-электронной системы определения пространственных координат контрольных точек с отражательными контрольными элементами. Система по методу прямой засечки может быть двух видов: активная система, в которой в каждой контрольной точке располагается источник оптического излучения полупроводниковый излучающий диод; полуактивная система, для которой в каждой точке располагается пассивный отражающий элемент. Пассивный элемент выполняется в виде отражающей стеклянной призмы. Отражающие элементы для полученных контрольных точек объединяются в группы по 5 призм, которые подсвечиваются единым светодиодным прожектором. В работе приведены эксперименты определения погрешности измерения координат контрольных точек от влияющих первичных погрешностей, действующих в системах и построены их графики.