Постоянное развитие электронной техники приводит к увеличению сложности микросхем с соблюдением высоких требований по быстродействию и надежности. Обеспечение высокого качества изготавливаемой продукции требует увеличения количества контрольных операций на всех этапах технологического процесса. Человек не может выполнять все контрольные операции, что приводит к необходимости создания высокопроизводительных автоматизированных систем контроля. В работе рассмотрена система для автоматизации процесса оптического контроля заготовок микросхем. Рассмотрены ряд вопросов, связанных с оптимизацией условий подсветки контролируемого изделия на линии конвейера. Предложены конкретные рекомендации, а также некоторые конструкторские и технологические решения реализации системы автоматизированного контроля.