Исследование возможностей анализа поверхности объектов оптическими методами

Сборник тезисов

Конференция:IV Всероссийский конгресс молодых ученых

Раздел:Фотоника, наноматериалы и оптотехника

Рубрика:Оптико-электронное приборостроение

Год:2015

Исследование возможностей анализа поверхности объектов оптическими методами

Норко Вадим Евгеньевич

Чертов Александр Николаевич

УДК:535.65, 681.78

Скачать PDF

Аннотация

Рассмотрены основные методы и системы анализа параметров поверхности объектов. Сделаны выводы о перспективах использования оптико-электронных систем анализа параметров поверхности объектов. Предложен алгоритм анализа цвета, рельефа и дефектности поверхности объектов и проведены экспериментальные исследования для проверки правильности составления алгоритма анализа цвета.

Исследование возможностей анализа поверхности объектов оптическими методами

Исследование возможностей анализа поверхности объектов оптическими методами

Аннотация

Постоянный URL

Материалы конференций

Исследование возможностей анализа поверхности объектов оптическими методами

Исследование возможностей анализа поверхности объектов оптическими методами

Аннотация

Постоянный URL

Поделиться

Материалы конференций