Новые технологии в области производства наноматериалов привели к созданию и широкому внедрению анализаторов частиц в нанометровом диапазоне, в частотности - измерителей счетной концентрации наночастиц. Достоверность измерения счетной концентрации наночастиц в первую очередь зависит от выбранных методов контроля метрологических характеристик. Типовым методом контроля является метод компарирования (непосредственное сличение) с аналогичным по сложности оборудованием, но обладающим более высокой точностью измерений. На наш взгляд, типовой метод обладает рядом недостатков. Предложенный в работе метод, подтвержденный экспериментально, дает возможность обеспечить контроль метрологических характеристик с точностью, достаточной для его широкого внедрения заводскими лабораториями, центрами стандартизации метрологии и научными институтами.