Сборник тезисов
Конференция:V Всероссийский конгресс молодых ученых
Раздел:Фотоника, наноматериалы и оптотехника
Рубрика:Оптотехника и оптические материалы
Год:2016
Модернизация и компьютеризация микроинтерферометра Линника для измерения толщины тонких пленок с повышенной точностью
УДК:531.715.1