<p>Устройства на основе периодических структур – решеток – широко используются в<br /> качестве дифракционных оптических элементов, носителей информации, элементов защиты<br /> в метрологии, оптоэлектронике, телекоммуникациях. Актуальной задачей является изучение<br /> процессов формирования и локализации решеток в различных средах.<br /> Одним из способов решения этой задачи является визуализация периодических<br /> структур посредством сканирующей оптической микроскопии, позволяющей строить<br /> объемные изображения объектов и измерять локальные характеристики процессов,<br /> происходящих при их формировании. Наблюдение периодических структур в когерентном<br /> свете осложнено интерференционными эффектами, такими как эффект Талбота, состоящий в<br /> самовоспроизведении изображения периодической решетки.</p>