Сокращение этапа производства электронных компонентов, вследствие постоянного совершенствования и появления новых технологий, ошибки, возникающие при алгоритмировании и программировании, не позволяют в полной степени гарантировать отсутствие недекларированных возможностей, как в программах, так и в электронных устройствах. Внедрение дополнительного функционала, обеспечивающего проверку и верификацию реакции отдельных удаленных и труднодоступных устройств, может сказываться на производительности отдельных элементов, что заставляет разработчиков избегать ресурсоемких операций анализа функционирования и поведения устройств. Для решения данной проблемы необходимо разработать систему внешнего мониторинга информационной безопасности, позволяющую производить оперативную независимую оценку состояния отдельных компонент, не тратящую вычислительные ресурсы устройств и не требующую физического вмешательства в их схему. Для достижения этой цели предлагается способ, основанный на спектральном анализе электромагнитного излучения электронных устройств.