БЕСКОНТАКТНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НА МИКРО- И НАНОУРОВНЯХ

Сборник тезисов

Конференция:II Всероссийский конгресс молодых ученых

Раздел:Сборник тезисов докладов конгресса молодых ученых. Выпуск 2

Рубрика:ПРОБЛЕМЫ МЕХАНИКИ И ТОЧНОСТИ В ПРИБОРОСТРОЕНИИ

Год:2013

БЕСКОНТАКТНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НА МИКРО- И НАНОУРОВНЯХ

Трамбицкий Константин Владиславович

Мусалимов Виктор Михайлович

УДК:681.2.083

Скачать PDF

Аннотация

Контактное измерение является на сегодняшний день самым распространенным способом оценки меры шероховатости поверхности на микро- и наноуровне. При этом отрицательной стороной данного метода является повреждение и деформация измеряемой поверхности после прохода по ней иглы профилометра. В связи с этим, перспективным методом оценки являются бесконтактные методы.

БЕСКОНТАКТНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НА МИКРО- И НАНОУРОВНЯХ

БЕСКОНТАКТНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НА МИКРО- И НАНОУРОВНЯХ

Аннотация

Постоянный URL

Материалы конференций

БЕСКОНТАКТНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НА МИКРО- И НАНОУРОВНЯХ

БЕСКОНТАКТНЫЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ КАЧЕСТВА ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НА МИКРО- И НАНОУРОВНЯХ

Аннотация

Постоянный URL

Поделиться

Материалы конференций