Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:535.317.226
Номер:1 (58)
Скачать PDF404 Кбайт
Рассматриваются методы определения основных параметров оптической сис- темы переменного увеличения при замене реальной оптической системы экви- валентной системой тонких компонентов. Показано, что знание основных параметров компонентов позволяет вычислить текущие значения их аберраци- онных параметров, получить представление о характере изменения аберраци- онных свойств системы, а следовательно, оценить возможность уменьшения аберраций изображения путем изменения значений основных параметров.