ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИАГРАММЫ ПАРЕТО ДЛЯ ОБЕСПЕЧЕНИЯ КАЧЕСТВА ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ
Аннотация:
Рассматривается подход к решению задачи обеспечения качества функционирования (повышения надежности) полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Сущность подхода заключается в использовании диаграммы Парето, наглядно показывающей зависимость отказов интегральных микросхем от вида дефекта. Определены основные виды дефектов, приводящих к большинству отказов полупроводниковых приборов.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- АДАПТИВНОЕ УПРАВЛЕНИЕ НЕОПРЕДЕЛЕННЫМИ СИСТЕМАМИ В УСЛОВИЯХ ИЗМЕРЕНИЙ ДИНАМИЧЕСКИМ КВАНТОВАТЕЛЕМ
- МЕТОД ФУНКЦИОНАЛЬНОГО КОНТРОЛЯ КОМБИНАЦИОННЫХ ЛОГИЧЕСКИХ УСТРОЙСТВ НА ОСНОВЕ КОДА „2 ИЗ 4“
- ОБЕСПЕЧЕНИЕ РОБАСТНОСТИ ПЬЕЗОПРИВОДА С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ МЕТОДА УПРАВЛЯЕМОЙ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ИНТЕРВАЛЬНОСТИ
- СИНТЕЗ КОМПЛЕКСНОГО ФИЛЬТРА С ЗАДАННОЙ ПЕРЕДАТОЧНОЙ ФУНКЦИЕЙ
- МАТЕМАТИЧЕСКИЙ АППАРАТ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ СЛОЖНЫХ ТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ
- ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫЙ АВТОКОЛЛИМАТОР ДЛЯ ДВУХКООРДИНАТНЫХ УГЛОВЫХ ИЗМЕРЕНИЙ
- АНАЛИЗ ОТРАЖАТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОДСТИЛАЮЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ НАКЛОННОЙ ДАЛЬНОСТИ
- ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЭФФЕКТИВНОЙ ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ БАЗАЛЬТО-АРМИРОВАННОГО КОМПОЗИТНОГО МАТЕРИАЛА МЕТОДОМ СТАЦИОНАРНОГО ТЕПЛОВОГО РЕЖИМА
- МОДЕЛИРОВАНИЕ ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ ТРЕХКОМПОНЕНТНЫХ КОМПОЗИЦИЙ
- ПРОЕКТИРОВАНИЕ И ИЗГОТОВЛЕНИЕ ФОРМООБРАЗУЮЩЕЙ ОСНАСТКИ В УСЛОВИЯХ МЕЛКОСЕРИЙНОГО ПРОИЗВОДСТВА
- ОПЫТ ЕДИНИЧНОГО И МЕЛКОСЕРИЙНОГО ПРОИЗВОДСТВА ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ СИСТЕМ
- ИЗМЕРИТЕЛЬ Z-ПАРАМЕТРОВ ПАССИВНЫХ МНОГОЭЛЕМЕНТНЫХ ДВУХПОЛЮСНИКОВ