Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:621.396.6
Номер:7 (59)
Скачать PDF234 Кбайт
Рассматривается подход к решению задачи обеспечения качества функционирования (повышения надежности) полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Сущность подхода заключается в использовании диаграммы Парето, наглядно показывающей зависимость отказов интегральных микросхем от вида дефекта. Определены основные виды дефектов, приводящих к большинству отказов полупроводниковых приборов.