АБЕРРАЦИИ ТРЕТЬЕГО ПОРЯДКА АСФЕРИЧЕСКИХ ОТРАЖАЮЩИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА
Аннотация:
Рассмотрены коррекционные возможности в области Зейделя отражающих поверхностей второго порядка: параболы, гиперболы и эллипса. Из рассмотрения выражений коэффициентов аберраций третьего порядка сформулирована теорема об аберрационных свойствах этих поверхностей.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- ФАЗО-КОМПЕНСИРУЮЩИЕ ПОКРЫТИЯ
- СИНТЕЗ И ИССЛЕДОВАНИЕ СТАБИЛЬНОСТИ СПЕКТРОДЕЛИТЕЛЬНЫХ ПОКРЫТИЙ ДЛЯ СРЕДНЕГО ИК-ДИАПАЗОНА СПЕКТРА
- ТЕЛЕВИЗИОННЫЙ МЕТОД ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА МИКРООПТИКИ
- МАТЕМАТИЧЕСКАЯ И ПРОГРАММНАЯ ОБРАБОТКА ДАННЫХ СПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛИРОВАЛЬНЫХ СМОЛ НА ПРОЦЕСС ОБРАБОТКИ ХАЛЬКОГЕНИДОВ ЦИНКА
- РАСЧЕТ ОПТИМАЛЬНОГО УГЛА РАЗВЕДЕНИЯ ОБЫКНОВЕННОГО И НЕОБЫКНОВЕННОГО ЛУЧЕЙ В ДВУЛУЧЕПРЕЛОМЛЯЮЩИХ ЭЛЕМЕНТАХ
- ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНО-ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ ДЛЯ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ ГИРОСКОПОВ
- ПЛЕНКА ZNO ДЛЯ БОЛЬШЕЭКРАННЫХ ДИСПЛЕЕВ
- ОСОБЕННОСТИ КОНТРОЛЯ ОБЪЕКТИВА ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ НАНОСТРУКТУР
- ВЛИЯНИЕ ДИСКРЕТНОЙ СТРУКТУРЫ ФОТОПРИЕМНИКА НА ПОГРЕШНОСТЬ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ
- АНАЛИЗ ВОЗМОЖНОСТИ ПРИМЕНЕНИЯ АКУСТООПТИЧЕСКИХ ФИЛЬТРОВ В ЗАДАЧЕ РЕКОНСТРУКЦИИ ТРЕХМЕРНОЙ СТРУКТУРЫ МИКРООБЪЕКТОВ В ПРОИЗВОЛЬНЫХ СПЕКТРАЛЬНЫХ ИНТЕРВАЛАХ
- УЧЕТ ДИФРАКЦИИ ПРИ ИССЛЕДОВАНИИ КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ НА ОСНОВЕ ФУНКЦИИ РАССЕЯНИЯ ТОЧКИ
- ИЗУЧЕНИЕ МАГНИТООПТИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА ФАРАДЕЯ
- ФТОРИД КАЛЬЦИЯ ДЛЯ ФОТОЛИТОГРАФИИ
- ПОЛЯРИЗАЦИОННО-ОПТИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП С НОВЫМИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫМИ ВОЗМОЖНОСТЯМИ
- РАЗРАБОТКА БЕССВИНЦОВОГО РАДИАЦИОННО-СТОЙКОГО ТЯЖЕЛОГО ФОСФАТНОГО ФЛИНТА
- ДИСПЕРСИЯ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ ДВУХЧАСТОТНОГО ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА В БЛИЖНЕЙ ИК-ОБЛАСТИ СПЕКТРА
- РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ТОЧНОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ СООСНОСТИ НА СТЕНДЕ
- ОСНОВНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ СОВЕРШЕНСТВОВАНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ ДЛЯ КОНТРОЛЯ СМЕЩЕНИЙ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ОБЪЕКТОВ
- ПОЗИЦИОННО-ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ФОТОПРИЕМНИК «МУЛЬТИСКАН» В ИЗМЕРИТЕЛЕ УГЛОВОЙ СКОРОСТИ ВРАЩЕНИЯ
- ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЯ ГЕНЕРАЦИИ ТГЦ ИЗЛУЧЕНИЯ С ПОМОЩЬЮ КРИСТАЛЛОВ DAST И ЛАЗЕРНОЙ ИСКРЫ
- ИССЛЕДОВАНИЕ АВТОКОЛЛИМАЦИОННОЙ СИСТЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ УГЛОВОГО ПОЛОЖЕНИЯ ПЕРЕМЕЩАЕМЫХ ОБЪЕКТОВ
- ОПРЕДЕЛЕНИЕ СЕЧЕНИЯ ВЫНУЖДЕННЫХ ПЕРЕХОДОВ В МАТЕРИАЛАХ, АКТИВИРОВАННЫХ ИОНАМИ ЭРБИЯ
- ВЛИЯНИЕ ГИДРОДИНАМИЧЕСКОГО ПОТОКА НА ЭЛЕМЕНТЫ КОНСТРУКЦИИ ТЕНЕВОГО ПРИБОРА
- ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ДЕФОРМАЦИИ И ТЕМПЕРАТУРЫ НА ОСНОВЕ НАНОРАЗМЕРНЫХ ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКИХ ДАТЧИКОВ
- ИЗУЧЕНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ СИГНАЛА ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОГО ГИРОСКОПА, ВЫЗВАННОГО ИЗМЕНЕНИЕМ ТЕМПЕРАТУРЫ ОКРУЖАЮЩЕЙ СРЕДЫ И ВНЕШНИМ МАГНИТНЫМ ПОЛЕМ
- СЕЛЕКЦИЯ И ИДЕНТИФИКАЦИЯ ТИПОВ ИНСПЕКТИРУЕМЫХ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ НА ОСНОВЕ ПЕЛЕНГАЦИОННОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ
- ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК МЕТОДОМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ АЛГОРИТМА В ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЕ КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ РЕПЕРНЫХ МЕТОК
- СТЕНД ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ПОПЕРЕЧНЫХ НАВОДОК
- УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРООБЪЕКТИВОВ НА ОСНОВЕ ФУНКЦИИ РАССЕЯНИЯ ТОЧКИ
- СХЕМОТЕХНИКА СПЕКТРОРЕФРАКТОМЕТРИЧЕСКОЙ ДИАГНОСТИКИ БИОЛОГИЧЕСКИХ ТКАНЕЙ
- АЛГОРИТМ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ ИЗОБРАЖЕНИЙ ТОЧЕЧНЫХ ИСТОЧНИКОВ В ДВИЖУЩЕЙСЯ СТЕРЕОСКОПИЧЕСКОЙ СИСТЕМЕ НА ПРИМЕРЕ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ РЕПЕРНЫХ МЕТОК
- К ВОПРОСУ ОБОСНОВАНИЯ МОДЕЛИ ПОТЕНЦИАЛОВ НУЛЕВОГО РАДИУСА
- ЛАЗЕРНЫЕ СВИНЦОВО-ФТОРИДНЫЕ НАНОСТЕКЛОКЕРАМИКИ, АКТИВИРОВАННЫЕ ИОНАМИ ЭРБИЯ
- ФЕМТОСЕКУНДНОЕ ЛАЗЕРНОЕ ВОЗБУЖДЕНИЕ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ВОЛН ТЕ-ТИПА
- СОРБЦИЯ ИОНОВ МЕТАЛЛОВ ПОЛИМЕРНЫМИ КОМПОЗИТАМИ
- ФОТО-ТЕРМО-РЕФРАКТИВНЫЕ СВОЙСТВА НАНОСТЕКЛОКЕРАМИК, АКТИВИРОВАННЫХ ИОНАМИ РЕДКИХ ЗЕМЕЛЬ
- НЕУСТОЙЧИВОСТЬ ФРОНТА КРИСТАЛЛИЗАЦИИ ЛАЗЕРНОГО РАСПЛАВА
- ИССЛЕДОВАНИЕ МОРФОЛОГИЧЕСКИХ ОСОБЕННОСТЕЙ ПОВЕРХНОСТИ ЭРОДИРОВАННЫХ ЛОПАТОК ПАРОВЫХ ТУРБИН
- ОСОБЕННОСТИ ФОРМИРОВАНИЯ МАКРОПОРИСТЫХ КРЕМНИЕВЫХ ЭЛЕКТРОДОВ ДЛЯ ПОРТАТИВНЫХ ТОПЛИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ОСОБЕННОСТЕЙ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ ПРИ ВЫСОКОСКОРОСТНОМ НАГРУЖЕНИИ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ЭЛЕКТРО- И МАГНИТОПРОВОДЯЩИХ ПОКРЫТИЙ