ПОДХОД К КЛАССИФИКАЦИИ СОСТОЯНИЯ ИНФОРМАЦИОННОЙ БЕЗОПАСНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ КИБЕРФИЗИЧЕСКИХ СИСТЕМ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПОБОЧНОГО ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
Аннотация:
Рассмотрены проблемные вопросы обеспечения информационной безопасности киберфизических систем.Проведен анализ характеристик автономных объектов. Представлена модель для системы мониторинга информационной безопасности, основанная на характеристиках, получаемых в результате анализа электромагнитного излучения электронных компонент автономных устройств киберфизических систем. Показана типовая схема определения состояния системы. Ввиду особенностей устройств, обеспечивающих инфраструктуру, оценивание состояния информационной безопасности направлено на анализ нормального функционирования системы, а не на поиск сигнатур и характеристик аномалий при проведении различного рода информационных атак. Раскрыт эксперимент, обеспечивающий получение статистической информации о работе удаленных устройств киберфизических систем, где накопление данных для принятия решения происходит путем сравнения статистической информации. Представлены результаты эксперимента по информационному воздействию на типовую систему. Предложенный подход анализа статистических данных автономных устройств на основе наивного байесовского классификатора может быть использован для определения состояний информационной безопасности. Особенностью подхода является возможность быстрой адаптации и применения различного математического аппарата, методов машинного обучения для достижения заданного качества вероятностной оценки состояния информационной безопасности. Реализация данного вида мониторинга не требует разработки сложных системных приложений, позволяет реализовывать различные архитектуры построения систем, производящие обработку на борту автономного объекта либо передачу данных и вычисление состояния на внешних вычислительных узлах систем мониторинга и контроля.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- СПЕКТРАЛЬНО-ЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЕ СВОЙСТВА СТЕКОЛ НА ОСНОВЕ СОСТАВА 35Bi2O3-40PbO-25Ga2O3, АКТИВИРОВАННЫХ ИОНАМИ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ
- АНАЛИЗ ВОЗМОЖНЫХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ КООРДИНАТ РЕАЛЬНЫХ ЛУЧЕЙ НА ВХОДНОМ ЗРАЧКЕ ОПТИЧЕСКОЙ СИСТЕМЫ ПРИ АППРОКСИМАЦИИ ВОЛНОВОЙ АБЕРРАЦИИ ПОЛИНОМАМИ ЦЕРНИКЕ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ЯНТАРЯ (СУКЦИНИТА) МЕТОДОМ ИНФРАКРАСНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ
- АЛГОРИТМ АДАПТИВНОГО БЕССЕНСОРНОГО УПРАВЛЕНИЯ СИНХРОННЫМ ДВИГАТЕЛЕМ
- ПРИМЕНЕНИЕ СХЕМЫ СМИТА В СЛЕДЯЩЕЙ СИСТЕМЕ С ЗАПАЗДЫВАНИЕМ В ОСНОВНОЙ ОБРАТНОЙ СВЯЗИ
- ИССЛЕДОВАНИЕ БИОДЕГРАДАЦИИ, А ТАКЖЕ АНТИМИКРОБНЫХ СВОЙСТВ ПОЛИВИНИЛХЛОРИДНЫХ ПЛЕНОК С ДОБАВКАМИ ПЕКТИНА И КРАХМАЛА
- ВЛИЯНИЕ ИОНИЗАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ГРУПП НА КОНФОРМАЦИОННЫЕ СВОЙСТВА ДЕНДРОННЫХ МОЛЕКУЛЯРНЫХ ЩЕТОК
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ НЕОРГАНИЧЕСКИХ НАПОЛНИТЕЛЕЙ НА МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПЕНОПОЛИУРЕТАНОВ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВНУТРЕННЕГО СТРОЕНИЯ ПОЛИУРЕТАНОВ-ПОЛИМОЧЕВИН МЕТОДОМ СПЕКТРОСКОПИИ ЯДЕРНОГО МАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА
- ТЕХНОЛОГИИ ШТРИХОВОГО КОДИРОВАНИЯ ДЛЯ ЗАДАЧ ЛИЦЕВОЙ БИОМЕТРИИ: СОВРЕМЕННОЕ СОСТОЯНИЕ И НОВЫЕ РЕШЕНИЯ
- ПРИМЕНЕНИЕ МИКРОСЕРВИСНОЙ АРХИТЕКТУРЫ ПРИ ПРОЕКТИРОВАНИИ ПРОМЫШЛЕННОГО ОБОРУДОВАНИЯ С ЧИСЛОВЫМ ПРОГРАММНЫМ УПРАВЛЕНИЕМ
- ОРГАНИЗАЦИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ДОКУМЕНТООБОРОТА МЕЖДУ ПРОЕКТНЫМ, ПРОИЗВОДСТВЕННЫМ И ЭКСПЛУАТИРУЮЩИМ ПРЕДПРИЯТИЯМИ В УСЛОВИЯХ ЦИФРОВОЙ ЭКОНОМИКИ ИНДУСТРИИ 4.0
- ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ МЕТОДОВ СТЕГАНОАНАЛИЗА ПУТЕМ ОПТИМИЗАЦИИ ПАРАМЕТРОВ ВЕЙВЛЕТ-ПРЕОБРАЗОВАНИЯ
- РАЗРАБОТКА АЛГОРИТМА АВТОМАТИЗАЦИИ ПОИСКА ОПТИМАЛЬНОЙ РАССТАНОВКИ ИСТОЧНИКОВ ОСВЕЩЕНИЯ В ГОРОДСКОЙ СРЕДЕ
- СИСТЕМА ОХЛАЖДЕНИЯ НА ОСНОВЕ ТЕПЛОВОЙ ТРУБЫ С УСТРОЙСТВОМ ПОГЛОЩЕНИЯ ТЕПЛОТЫ ОТ МОЩНЫХ ИСТОЧНИКОВ
- ОПТИМИЗАЦИЯ КОНСТРУКТИВНЫХ ПАРАМЕТРОВ ГЛУБОКОВОДНОГО ИНДУКЦИОННОГО ДАТЧИКА СКОРОСТИ
- ВЛИЯНИЕ НАПРАВЛЕНИЯ ОРТОТРОПИИ НА НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОЕ СОСТОЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРНО-ВОЗМУЩЕННОГО ЧУВСТВИТЕЛЬНОГО ЭЛЕМЕНТА МИКРОМЕХАНИЧЕСКОГО АКСЕЛЕРОМЕТРА
- ПРИМЕНЕНИЕ СХЕМЫ С НАСТРАИВАЕМЫМИ ДИССИПАТИВНЫМИ СВОЙСТВАМИ К РАСЧЕТУ ТЕЧЕНИЙ ГАЗА С РАЗВИТИЕМ НЕУСТОЙЧИВОСТИ НА КОНТАКТНОЙ ГРАНИЦЕ
- ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩАЯ КОМПОЗИЦИЯ БЕТОНА
- МЕТОД АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗВЛЕЧЕНИЯ ОТКРЫТЫХ ОТНОШЕНИЙ ИЗ КИТАЙСКИХ ТЕКСТОВ
- ОСОБЕННОСТИ НАНЕСЕНИЯ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК НА ПОВЕРХНОСТЬ ШОКОЛАДА