Моделирование анизотропности температурного поля объемных интегральных микросхем
Аннотация:
Рассмотрен статистический метод анализа температурной стабильности электронных устройств. Показано, что на основе факторного эксперимента воз-можно получение уравнение температурной погрешности, в котором устанавливается функциональная взаимосвязь между факторами (температурой электрорадиоизделий) и выходным параметром электронного устройства. Поскольку в условиях пространственной структуры объемных интегральных схем объединение электрорадиоизделий возможно не только планарно, но и на разных уровнях, введено понятие „объемная локальная группа“. Показано, что для этого предварительно необходимо найти распределение температурного поля для пространственной структуры объемной интегральной схемы. Наибо-лее эффективным методом нахождения температурного поля в настоящее время признан метод конечных элементов как разновидность численных методов решения дифференциального уравнения теплопроводности. Представлены результаты моделирования температурной стабильности для импульсного усилителя мощности, реализованного в виде трехслойной структуры объемной интегральной схемы.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Синтез схемы встроенного контроля для многовыходных комбинационных устройств на основе логического дополнения и сжатия сигналов
- Оценка погрешностей при косвенном измерении аэродинамических углов летательного аппарата с использованием акселерометров и датчиков давления
- Прецизионный электропривод на базе многофазного инвертора с пространственно-векторной модуляцией
- Математическая модель динамики маятникового чувствительного элемента датчика уровня железнодорожного пути
- Исправление одиночных ошибок в цифровых преобразователях угла на основе рекурсивных кодовых шкал
- Оценка взаимосвязи низкочастотных помех при многоканальной регистрации электрокардиосигнала
- Метод расчета оптического элемента для заградительного огня малой интенсивности
- Методика формализации единичных критериев качества продукции приборострое-ния для двухуровневой модели. Ч. I. Единичные критерии целевых функций качества
- Определение стекловидности пшеницы методом технического зрения в ближнем ик диапазоне длин волн
- Определение механических и акустических характеристик хрупких материалов при различной скорости нагружения образцов