Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:8 (42)
Скачать PDF0 Кбайт
На базе интерферометрического метода разработана автоматизированная система определения параметров шероховатости микро – и наноструктур. Статья подготовлена по результатам НИР “Разработка методов исследования качественных и количественных характеристик наносистемных структур”.