ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ ОПТИЧЕСКОГО ДАТЧИКА ПЕРЕМЕЩЕНИЙ В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ВИБРАЦИИ НА КОНТРОЛИРУЕМЫЙ ОБЪЕКТ
Аннотация:
Оптические датчики на основе многоэлементной линейки фотоприемников широко применяются в измерительной технике. Воздействие вибрации на оптические датчики линейного перемещения является одним из факторов, снижающих точность измерений. Разработан алгоритм обработки сигнала с датчика, обеспечивающий снижение негативного влияния вибрации на точность измерений. Использованы методы численного моделирования, в качестве параметров моделирования выступают характеристики линейки фотоприемников TCD1304 марки Toshiba. Моделируемый диапазон соотношения периода интегрирования линейки фотоприемников к периоду вибраций составляет от 0,02 до 2. Результаты исследования показали снижение погрешности измерений, по сравнению с датчиком, использующим при оценке линейного положения центроид-метод. Эффективность достигнута при отношении периода интегрирования к периоду вибраций больше 0,1. Анализ результатов подтверждает эффективность разработанного алгоритма обработки сигналов в части повышения динамических метрологических характеристик датчиков линейных перемещений. Алгоритм может быть рекомендован для использования в точном машиностроении и авиационной технике, где особенно актуальна проблема вибрационных помех.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- ИНФОРМАЦИОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИХ И ОПЫТНО-КОНСТРУКТОРСКИХ РАБОТ НА ОСНОВЕ SMART-СТАНДАРТОВ
- АНАЛИТИЧЕСКИЙ МЕТОД ПОИСКА НЕИЗВЕСТНЫХ ПОСТОЯННЫХ ПАРАМЕТРОВ ЛИНЕЙНЫХ РЕГРЕССИОННЫХ НЕРАВЕНСТВ
- МОДУЛЬНАЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВАЯ СИСТЕМА УПРАВЛЕНИЯ БАЗАМИ ДАННЫХ
- МУЛЬТИАСПЕКТНОЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЕ ПРОБЛЕМНОЙ ОБЛАСТИ ДЛЯ КОНФИГУРИРОВАНИЯ СОЦИОТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ
- ДАТЧИК МАЛЫХ УГЛОВЫХ СМЕЩЕНИЙ НА ОСНОВЕ КРЕМНИЕВОГО ФОТОУМНОЖИТЕЛЯ ДЛЯ СИСТЕМ СЛЕЖЕНИЯ
- ФОРМИРОВАНИЕ ЗОН ФРЕНЕЛЯ ПРИ АКУСТИЧЕСКОМ ЗОНДИРОВАНИИ ДОННОГО ГРУНТА
- ИНСТРУМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА СТАБИЛЬНОСТИ РАЗВИТИЯ РАСТЕНИЙ
- МОДЕЛЬ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ ИНЖЕНЕРНЫМИ ИЗМЕНЕНИЯМИ И ОПТИМИЗАЦИЯ МАРШРУТОВ ИХ СОГЛАСОВАНИЯ НА ПРЕДПРИЯТИИ РАДИОЭЛЕКТРОННОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ
- ПОДХОДЫ К ОПИСАНИЮ МИКРОТОПОГРАФИИ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ