Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:621.924.093; 381.53.08.519; 681.7.02
Номер:10 (68)
ПОДХОДЫ К ОПИСАНИЮ МИКРОТОПОГРАФИИ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ
Аннотация:
Обоснована необходимость использования модели физического фрактала в нормативных и конструкторских документах для оптических поверхностей, так как это позволяет адекватно оценивать энергетические потери, связанные с рассеянием излучения. Отмечается целесообразность перехода от двумерных измерений к трехмерным при нормировании и определении шероховатости.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- ИНФОРМАЦИОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИХ И ОПЫТНО-КОНСТРУКТОРСКИХ РАБОТ НА ОСНОВЕ SMART-СТАНДАРТОВ
- АНАЛИТИЧЕСКИЙ МЕТОД ПОИСКА НЕИЗВЕСТНЫХ ПОСТОЯННЫХ ПАРАМЕТРОВ ЛИНЕЙНЫХ РЕГРЕССИОННЫХ НЕРАВЕНСТВ
- МОДУЛЬНАЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВАЯ СИСТЕМА УПРАВЛЕНИЯ БАЗАМИ ДАННЫХ
- МУЛЬТИАСПЕКТНОЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЕ ПРОБЛЕМНОЙ ОБЛАСТИ ДЛЯ КОНФИГУРИРОВАНИЯ СОЦИОТЕХНИЧЕСКИХ СИСТЕМ
- ДАТЧИК МАЛЫХ УГЛОВЫХ СМЕЩЕНИЙ НА ОСНОВЕ КРЕМНИЕВОГО ФОТОУМНОЖИТЕЛЯ ДЛЯ СИСТЕМ СЛЕЖЕНИЯ
- ПОВЫШЕНИЕ ТОЧНОСТИ ОПТИЧЕСКОГО ДАТЧИКА ПЕРЕМЕЩЕНИЙ В УСЛОВИЯХ ВОЗДЕЙСТВИЯ ВИБРАЦИИ НА КОНТРОЛИРУЕМЫЙ ОБЪЕКТ
- ФОРМИРОВАНИЕ ЗОН ФРЕНЕЛЯ ПРИ АКУСТИЧЕСКОМ ЗОНДИРОВАНИИ ДОННОГО ГРУНТА
- ИНСТРУМЕНТАЛЬНАЯ ОЦЕНКА СТАБИЛЬНОСТИ РАЗВИТИЯ РАСТЕНИЙ
- МОДЕЛЬ СИСТЕМЫ УПРАВЛЕНИЯ ИНЖЕНЕРНЫМИ ИЗМЕНЕНИЯМИ И ОПТИМИЗАЦИЯ МАРШРУТОВ ИХ СОГЛАСОВАНИЯ НА ПРЕДПРИЯТИИ РАДИОЭЛЕКТРОННОГО ПРИБОРОСТРОЕНИЯ