Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:4 (15)
Скачать PDF0 Кбайт
Разработан прибор для снятия переходных характеристик и измерения параметров ультрабыстрых диодных структур в различных исполнениях. Особенностью прибора является возможность измерений в наносекундном диапазоне. Управление процессом измерения, а также обработка, отображение и хранение информации осуществляется с помощью персонального компьютера.