Акустоэмиссионный контроль электротехнического фарфора
Аннотация:
На базе линейной механики разрушения обоснован неразрушающий экспресс-метод определения разрушающей нагрузки LР. Метод опробован на электротехническом фарфоре.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Исследование плоского и неустойчивого резонатора твердотельного моноимпульсного лазера с динамическим градиентным отражателем
- Лазер−кислотный способ удаления эмали зуба человека
- Исследование лазерной плазмы как источника излучения в области вакуумного ультрафиолета
- Исследование влияния оптического излучения на динамику развития pisum sativum L
- Моделирование динамики теплопереноса в астатических преобразователях тепловых потоков и тепломере Гардона с использованием фильтра Калмана
- Динамические характеристики комбинированных преобразователей тепловых потоков
- Обеспечение теплового режима большеразмерной активной фазированной антенной решетки
- Компьютерное управление полупроводниковыми микроохладителями
- Исследование тепловых режимов пультов управления техническими средствами корабля
- Расчет тепловых режимов моноблоков с естественным охлаждением
- Влияние разъемных соединений и кабелей на тепловой режим радиоэлектронной аппаратуры
- Способ оценки степени хаотичности энергоинформационных потоков в сознании человека
- Исследование степени хаотичности энергоинформационных потоков в сознании человека
- Применение миниатюрных термисторов в качестве термоанемометров
- Определение состояния человека по характеристикам его дыхания
- Распознавание формы поверхности на основе интенсивности и поляризации отраженного света
- Механическая активация растворов как способ повышения чувствительности в спектральном анализе
- Машинный эксперимент с решениями прямой задачи эллипсометрии
- Методы коррекции решений задачи Васичека
- Эллипсометрический инвариант Френеля-Брюстера
- Оптические константы нитрида бора
- Эллипсометрический контроль автоволновых процессов
- Работа корректора коэффициента мощности в нестационарном режиме
- Переходные характеристики корректора
- Формирователь высоковольтных импульсов напряжения с импульсной мощностью в несколько мегаватт
- Способ уменьшения коммутационных потерь при включении транзистора на открытый диод
- Использование программного обеспечения MAX PLUS II и E-LAB для сквозного проектирования цифровых устройств с микропроцессорным управлением
- Применение САПР Protal с использованием библиотек компонентов разработчика в лабораторных работах
- Моделирование процессов временной ВКР-компрессии в неоднородной плазме
- Непосредственная регистрация распределения интенсивности в стоячей эванесцентной волне с помощью ближнепольного туннельного оптического микроскопа
- Спектральная селективность объёмных пропускающих голограмм
- Поляризованная люминесценция ионов тулия в лазерных стеклах
- Спектрально-люминесцентные свойства метафосфата иттербия, активированного ионами эрбия
- Спектрально-люминесцентные свойства ионов хрома в стеклокристаллических материалах
- Визуализация дислокаций и остаточных напряжений на флюорите методом декодирования
- Влияние высокотемпературной термообработки на спектр поглощения кристаллов германия
- Повышение точности импульсных оптических дальномеров
- Моделирование оптико-электронной системы измерения пространственных координат на основе метода "прямой угловой засечки"
- Моделирование оптико-электронных систем измерения пространственных координат на основе метода "обратной угловой засечки"
- Пути совершенствования распределенных оптико-электронных систем контроля смещений
- Возможности передачи непрерывной информации по оптическим каналам связи
- Экспериментальные исследования широкодиапазонного автоколлиматора
- Особенности моделирования оптико-электронных систем измерения деформаций крупноразмерных объектов
- Компенсационный алгоритм автоколлимационных измерений повышенной точности
- Оптико-электронные приборы температурного контроля в стоматологической практике
- Анализ возможностей стабилизации параметров проходного измерителя потока лазерного излучения
- Анализ профориентационной работы на кафедре ПиКО за 1996–2004 годы
- Эффективность осветительного устройства светового микроскопа
- Компенсатор Оффнера в автоколлимационной схеме контроля вогнутых отражающих поверхностей вращения несферической формы
- Анализ проблем композиции оптических схем адаптивных телескопов
- Однолинзовые объективы для оптической записи и считывания информации
- Двухзеркальные, светосильные, реверсивные телеобъективы
- Зеркально-линзовые объективы с уменьшенными значениями экранирования и осевой длины
- Нанотестер для диагностики микро и наноструктур
- Синтез и изучение кинетики роста нанокристаллов фосфатов РЗЭ и их твердых растворов в системе La(X)Lu(1-X)PO4
- Эффективная масса тяжелых дырок в бесщелевых полупроводниках HgSe , CdxHg1-xTe и HgTe при комнатных температурах