Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:2 (13)
Скачать PDF0 Кбайт
Рассмотрено недисплейное применение нематических жидких кристаллов для изучения свойств поверхности материалов: дефектов микрорельефа, структурных неоднородностей, распределения слабых электрических и магнитных полей. Описан разработанный метод неразрушающего контроля поверхностей и показаны возможности его применения в кристаллографии, минералогии, металловедении, тонкопленочной технологии и медицине. Обсуждены перспективы развития метода.