Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:621.378.33
Номер:4 (51)
Скачать PDF0 Кбайт
Для контроля параметров технологического процесса селективного лазерного спекания и визуализации области обработки разработана и создана система оптического мониторинга, основанная на измерении максимальной температуры и ее распределения в области спекания методом спектрального отношения с пространственным и временным разрешением. Система интегрирована с лазерной системой технологического комплекса.