Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:535.317.2
Номер:1 (54)
Скачать PDF897 Кбайт
Рассмотрены современные предпосылки развития микроэлектроники: углубление в вакуумно-ультрафиолетовый рабочий диапазон, создание и применение зеркальных объективов предельной точности, построенных по схеме Шварц- шильда, когда требования к точности измерения ошибок строже, чем λ/100 для λ =0,633 мкм. На стадии финишной доводки оптических поверхностей объекти- ва, в дополнение к дифракционной интерферометрии, необходима оценка каче- ства изображения, сформированного объективом, с использованием прямого метода изофотометрии структуры изображения точки, чем преодолевается не- достаток чувствительности интерференционного контроля.