Применение метода восстановления глубины из фокусировки для микроскопических изображений
Аннотация:
Исследован метод построения карты глубины сцены по набору ее микроскопических изображений. Для каждой координаты поля изображения определялся номер слоя, в котором значение дисперсии по окну определенного размера принимает максимальное значение. Предложено выполнять предварительную обработку изображений до этапа вычисления дисперсии, а операцию отделения изображения объекта от фона производить с помощью адаптивного порога по разности максимальной и минимальной дисперсии по всем слоям для каждого пиксела в отдельности. Экспериментальные исследования свидетельствуют о пригодности предложенного метода для построения карт глубины различных микроскопических объектов.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Коэффициенты экстинкции и люминесценция гетероструктур CdSe/CdTe, CdTe/CdSe и CdTe/CdS на основе коллоидных нанокристаллов CdSe и CdTe
- Спектральное исследование самоорганизации квантовых точек при испарении коллоидных растворов
- Определение топографии двулучепреломления в кристаллах флюорита и исследование его влияния на качество изображения проекционных фотолитографических систем
- Крупногабаритный многоспектральный объектив
- Расчет светозащитных бленд в оптической системе “зеркальный Райт” с малым углом наклона зеркального планоида
- Влияние фильтрации на статистические характеристики изображений при реализации модели линейного предсказателя методом голографии Фурье
- Линзакон: непараксиальные эффекты
- Волоконно-оптический индикатор возникновения искры и дуги со спектральным преобразованием детектируемого излучения
- Схема суммирования световых потоков от набора газоразрядных ламп для имитатора солнечного излучения
- Пассивная криогенная система охлаждения для геостационарного спутника
- Формирование наноразмерных Y2O3:Eu3+-покрытий на поверхности стекол с использованием растворов, содержащих поливинилпирролидон
- Структурные, оптические и сцинтилляционные характеристики ZnO-керамик
- Особенности оптических и нелинейно-оптических характеристик многослойных кристаллов DAST