Проводимость и фотопроводимость гранулированной плёнки серебра на сапфировой подложке
Аннотация:
Исследованы фотоэлектронные свойства высокоомной пленки серебра на сапфире, состоящей из гранул размером 15-20 нм и такими же промежутками между ними. Омическая проводимость пленки увеличивалась с температурой. Обнаружена фотопроводимость в пленке при воздействии на нее оптического излучения с длинами волн до красной границы фотоэффекта. В спектре фотопроводимости обнаружен эффект "смены знака" фототока, когда под действием излучения, с длиной волны менее 460 нм, ток через пленку увеличивается, а с длиной волны большей 460 нм уменьшается. Предложена модель проводимости и фотопроводимости, основанная на допировании диэлектрической подложки за счет расположенных на ней металлических наночастиц и движении электронов по ловушкам в подложке. В рамках модели рассчитано положение дна зоны проводимости диэлектрика относительно уровня Ферми для серебра.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Динамика сильно поля светового импульса из малого числа колебаний при возбуждении плазмы в диэлектрической среде
- Оптические устройства виртуальных дисплеев
- Использование призменных элементов для построения плоских волноводных экранов
- Аналитическая методика расчета тепловых потоков в околоземном пространстве, формирующих тепловой режим космических телескопов
- Оптическое приборостроение для микроэлектроники
- Метод генерации амплитудных масок с постоянными спектрами мощности и их использование для измерения двумерных модуляционных передаточных функций оптических систем
- Оценка влияния динамического диапазона и шумов регистрирующих камер на качество цифровых голограмм
- Исследование одномодового режима работы микроструктурированных световодов с каналами вытекания излучения
- Быстрый обзор круговой зоны инфракрасной сканирующей системой с матричным фотоприемным устройством
- Интерферометр фазового сдвига для контроля плоских и сферических оптических деталей
- Влияние технологических факторов на предельные характеристики неодимовых фосфатных стекол для крупногабаритных дисковых и стержневых активных элементов
- Использование Tm:YLF лазера для определения коэффициента диффузии хрома в ZnSe
- Analysis of Fabrication Tolerance Based on Uneven Thickness of Su8-photo-resist
- Решение Девятого съезда Оптического общества им. Д.С. Рождественского
- Книга "Оптика России. Очерки истории и развития"