Эллипсометрические исследования природной оксидной пленки на поверхности теллурида кадмия.
Аннотация:
Эллипсометрическими измерениями установлено, что процесс взаимодействия скола монокристаллического теллурида кадмия с атмосферным воздухом состоит из двух этапов. В первые 7-10 дней характер изменения измеряемых эллипсометрических параметров соответствует формированию поглощающего слоя толщиной в 1-2 моноатомных слоя. Начиная с 20-х суток, нарастает прозрачная пленка, возможно оксидная, показатель преломления которой близок к 2,2, а толщина увеличивается до 5-6 нм за время окисления до 1 года. Исходя из литературных данных сделано предположение, что внутренняя пленка является слоем свободного теллура, а внешняя образована окислами кадмия или теллура, либо их смесью.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Оптический метод и аппаратура для дезинтоксикации отравляющего действия угарного газа
- Оптический фильтр с угловой селективностью светопропускания
- Применение кратномасштабного анализа для расширения динамического диапазона цветных эндоскопических изображений
- Аберрации объемного голограммного оптического элемента, полученного с помощью цилиндрической объектной и сферической опорной волн
- Физические основы расчета интерферометра с вращающейся пластинкой
- Исследование возможности уменьшения угловых погрешностей круговых оптических шкал, изготовленных способом обратной фотолитографии
- Performance Evaluation of an optical network based on Optical Cross Add Drop Multiplexer Оценка характеристик оптической сети связи на базе оптических кросс-коммутаторов со спектральным мультиплексированием
- Влияние температуры на люминесценцию молекулярных кластеров серебра в фото-термо-рефрактивных стеклах
- Эллиптичность поперечного сечения стеклянного капилляра, сформированного перетяжкой цилиндрической трубы-заготовки
- Диагностика направления температурного ухода по асимметрии полос в отражающем интерферометре
- Формирование покрытий при одновременном испарении двух диэлектриков