Нарушение изотропности диффузного излучения вследствие его дифракции на многомерных регулярных структурах
Аннотация:
Статья посвящена результатам экспериментальной проверки теоретического пред-положения, согласно которому базовый аксиоматический постулат статистической физики о равновероятности пребывания замкнутой системы в любом из доступных ей микросостояний может быть несправедлив для неэргодических случаев. В ходе фотометрических экспериментов, призванных зафиксировать прогнозируемую по-терю изотропности диффузным световым полем вследствие его контакта с двумерной дифракционной решеткой фазового типа, выявилось значимое отклонение от закона Ламберта при рассеянии диффузного фотонного газа поверхностью решетки. Это при-водило к появлению угловой анизотропии потоков излучения в изначально однородном световом поле. Полученные результаты дают основание для ревизии определения наи-более вероятного макросостояния замкнутой системы.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Нелинейные оптические свойства фуллерен-порфириновых комплексов
- Медицинские применения лазеров среднего инфракрасного диапазона. Проблемы и перспективы
- Трехзеркальный объектив телескопа без экранирования
- Анализ и синтез зеркально-линзовых резонаторов
- Построение систем локальных инвариантных признаков изображения на основе преобразования Фурье–Меллина
- Программный комплекс для синтеза и цифрового восстановления голограмм-проекторов: влияние параметров синтеза на качество восстановленного изображения
- Обеспечение целевых показателей качества при автоматизации сборки микрообъективов
- Факторы, ограничивающие срок службы отпаянных эксиплексных ламп барьерного разряда, содержащих хлор
- Формирование наноразмерных MgO-покрытий на поверхности стекла
- Люминесцентные и сцинтилляционные свойства оптической керамики Gd2O2S:Eu
- Разработка микроструктурированных световодов с большой сердцевиной и исследование их оптических свойств
- Контроль оптических толщин осаждаемых слоев непосредственно на рабочих образцах в процессе роста
- Исследование полированных поверхностей халькогенидов цинка путем компьютерного распознавания дефектов на микрофотографиях