МИКРОСКОПЫ С РАСТРОВЫМИ ОСВЕТИТЕЛЬНЫМИ УСТРОЙСТВАМИ
Аннотация:
Рассматриваются вопросы построения и практического использования растровых осветительных устройств в отечественных микроскопах. Дается оценка реализации подобных устройств в микроскопах фирмы “Nikon”, и обсуждаются перспективы использования растровых осветительных устройств в микроскопии.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- УСИЛЕНИЕ ПОВОРОТА ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ СЛОЕМ ХОЛЕСТЕРИЧЕСКОГО ЖИДКОГО КРИСТАЛЛА
- ЛАЗЕРНОЕ ТЕРМОРАСКАЛЫВАНИЕ ХРУПКИХ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ ПО ЗАМКНУТЫМ КРИВОЛИНЕЙНЫМ КОНТУРАМ
- МАТРИЧНЫЙ МЕТОД РАСЧЕТА ПОЛЯРИЗАЦИОННЫХ АБЕРРАЦИЙ
- ВЗАИМОСВЯЗЬ ОПТИЧЕСКИХ И ИНФОРМАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОИНФОРМАЦИОННЫХ СИСТЕМ
- ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЙ МЕТОД РАСПОЗНАВАНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ПО ЗАТЕНЕНИЮ
- ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА И ПРИМЕНЕНИЕ МУЛЬТИДОМЕННЫХ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР
- ПРИМЕНЕНИЕ МУЛЬТИДОМЕННЫХ ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР ДЛЯ УЛУЧШЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МИКРОЛИНЗ
- СУДОВОЙ ЛИДАР ДЛЯ ГИДРОЛОГИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ
- ИЗМЕРЕНИЕ ФУНКЦИЙ ПЕРЕДАЧИ МОДУЛЯЦИИ ОБЪЕКТИВОВ С ПОМОЩЬЮ МАТРИЧНЫХ ПЗС-ФОТОПРИЕМНИКОВ
- ПРИМЕНЕНИЕ ИМПУЛЬСОВ СМЕЩЕНИЯ ДЛЯ ВЫРАВНИВАНИЯ СИГНАЛОВ В МАТРИЧНЫХ МИКРОБОЛОМЕТРИЧЕСКИХ ПРИЕМНИКАХ
- НАНОФОТОРЕАКТОРЫ НА ОСНОВЕ ЖИДКИХ ОРГАНИЗОВАННЫХ СРЕД
- ТЕКСТУРИРОВАННЫЙ ОПТИЧЕСКИЙ ЛЕЙКОСАПФИР
- ВЛИЯНИЕ ТРЕЩИНЫ И ДЕФЕКТНОГО МАТЕРИАЛА В ЕЕ ОКРЕСТНОСТИ НА ЛУЧЕВУЮ ПРОЧНОСТЬ ПРОЗРАЧНЫХ МАТЕРИАЛОВ
- ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ ПОЛИРОВАННОГО ОПТИЧЕСКОГО СТЕКЛА