Статья The lateral capacitance of nanometer MNOSFET with a single charge trapped in oxide layer or at SiO2 - SI3N4 interfaceat Аминов Ю. А., Атамуратов А. Е., Атамуратова З. А., Халиллаев М. ., Абдикаримов А. ., Матякубов Х. .