Исследование и разработка принципов анализа параметров поверхности объектов спектрофотометрическими методами

Сборник тезисов

Конференция:V Всероссийский конгресс молодых ученых

Раздел:Фотоника, наноматериалы и оптотехника

Рубрика:Оптико-электронное приборостроение

Год:2016

Исследование и разработка принципов анализа параметров поверхности объектов спектрофотометрическими методами

Норко Вадим Евгеньевич

УДК:681.78

Скачать PDF

Аннотация

В работе рассмотрено исследование и разработка принципов анализа цвета, рельефа и дефектности поверхности объектов спектрофотометрическими методами, а также разработка оптико-электронной системы реализующей разработанные принципы анализа, и дальнейшая проверка ее работоспособности.

Исследование и разработка принципов анализа параметров поверхности объектов спектрофотометрическими методами

Исследование и разработка принципов анализа параметров поверхности объектов спектрофотометрическими методами

Аннотация

Постоянный URL

Материалы конференций

Исследование и разработка принципов анализа параметров поверхности объектов спектрофотометрическими методами

Исследование и разработка принципов анализа параметров поверхности объектов спектрофотометрическими методами

Аннотация

Постоянный URL

Поделиться

Материалы конференций