Унифицированный микропроцессорный стенд для снятия вольт-амперных характеристик электронных компонентов

Сборник тезисов

Конференция:V Всероссийский конгресс молодых ученых

Раздел:Информационные и интеллектуальные системы и технологии

Рубрика:Информационная безопасность, проектирование, технология элементов и узлов компьютерных систем

Год:2016

Унифицированный микропроцессорный стенд для снятия вольт-амперных характеристик электронных компонентов

Русанов Максим Николаевич

УДК:681.518.22

Скачать PDF

Аннотация

В работе рассмотрена разработка унифицированного микропроцессорного стенда для снятия вольт-амперных характеристик (ВАХ) электронных компонентов, использующего статический метод измерения. Произведен анализ достоинств и недостатков, существующих на данный момент учебных лабораторных стендов по измерению ВАХ, и на основе этого была спроектирована и создана улучшенная измерительная установка.

Унифицированный микропроцессорный стенд для снятия вольт-амперных характеристик электронных компонентов

Унифицированный микропроцессорный стенд для снятия вольт-амперных характеристик электронных компонентов

Аннотация

Постоянный URL

Материалы конференций

Унифицированный микропроцессорный стенд для снятия вольт-амперных характеристик электронных компонентов

Унифицированный микропроцессорный стенд для снятия вольт-амперных характеристик электронных компонентов

Аннотация

Постоянный URL

Поделиться

Материалы конференций