Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:4 (15)
Скачать PDF0 Кбайт
В работе исследуется локальная экзоэлектронная эмиссия для последующей разработки на его основе нового метода качественной и количественной диагностики твердых образцов с использованием комбинированных методик электронной и сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии.