Журнал
ИЗВЕСТИЯ ВЫСШИХ УЧЕБНЫХ ЗАВЕДЕНИЙ «ПРИБОРОСТРОЕНИЕ»
УДК:621.38
Номер:7 (53)
Скачать PDF426 Кбайт
МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОВ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ В СВЕТОДИОДАХ
Аннотация:
Рассматривается физико-математическая модель светодиода в корпусе ТО-1, в качестве параметров которой использованы геометрические размеры кристалла и элементов корпуса, показатели преломления и коэффициенты поглощения материала корпуса кристалла. При решении задачи распространения излучения учтены процессы отражения от основания корпуса, цилиндрической и сферической поверхностей купола, эффекты преломления лучей на указанных поверхностях, поглощение излучения в кристалле и материале корпуса. Приведены ре- зультаты сравнения расчетных и экспериментальных диаграмм направленности излучения светодиода КИПД-21К.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- МОДЕЛИ КОМПОЗИЦИОННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ АВИОНИКИ
- ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ИНФОРМАТИВНЫХ ПРИЗНАКОВ ДЛЯ ВЫЯВЛЕНИЯ МОМЕНТА НАРУШЕНИЯ СТАЦИОНАРНОСТИ СЛУЧАЙНОГО ПРОЦЕССА
- ДОСТИЖЕНИЕ РОБАСТНОСТИ СИСТЕМЫ СТАБИЛИЗАЦИИ, СИНТЕЗИРОВАННОЙ НА ОСНОВЕ КВАДРАТИЧНОЙ ТЕОРИИ
- АНАЛИЗ ПОВЕДЕНИЯ АВТОМАТИЧЕСКИХ РАДИОДАЛЬНОМЕРОВ ПРИ СЛУЧАЙНЫХ ВОЗМУЩЕНИЯХ
- ОЦЕНКА ВРЕМЕНИ ДОСТАВКИ СООБЩЕНИЙ В РАСПРЕДЕЛЕННЫХ СИСТЕМАХ РЕАЛЬНОГО ВРЕМЕНИ С CAN-ИНТЕРФЕЙСОМ
- ИСПОЛЬЗОВАНИЕ НЕЛИНЕЙНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ ПРИ ПОСТРОЕНИИ ДВУХДОРОЖЕЧНЫХ КОДОВЫХ ШКАЛ ДЛЯ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ УГЛОВЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ
- ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ КОД—ЧИСЛО ИМПУЛЬСОВ С АКТУАЛИЗАЦИЕЙ СОСТОЯНИЙ
- ЗАПАС МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ КАК КРИТЕРИЙ ОЦЕНКИ ИСПРАВНОСТИ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ
- КОНТРОЛЬ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ИЗДЕЛИЙ НА БАЗЕ ТЕХНОЛОГИЙ ФИРМЫ “NATIONAL INSTRUMENTS”
- СИНТЕЗ СИСТЕМЫ ПЕРЕДАЧИ И ВИЗУАЛИЗАЦИИ ОБЪЕМНЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ НА ОСНОВЕ АКУСТООПТИЧЕСКОГО ДЕФЛЕКТОРА
- ЛАБОРАТОРНЫЙ СПЕКТРОМЕТР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЦВЕТНОСТИ ДИФФУЗНО ОТРАЖАЮЩИХ ОБЪЕКТОВ
- ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ПЛОСКОПАРАЛЛЕЛЬНОЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ ПЛАСТИНКИ ДЛЯ УПРАВЛЕНИЯ ЭЛЛИПТИЧНОСТЬЮ ИЗЛУЧЕНИЯ
- ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ПОВЕРХНОСТНО ОКРАШЕННЫХ ОЧКОВЫХ ЛИНЗ НА ОСТРОТУ ЗРЕНИЯ
- О ВОЗМОЖНОСТИ АДАПТАЦИИ ТЕОРИИ РАСПРЕДЕЛЕННЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ К ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫМ СИСТЕМАМ