Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:535.51
Номер:6 (76)
Скачать PDF0 Кбайт
Рассмотрен эллипсометрический метод аттестации образцовых элементов для спектрофотометрической аппаратуры. Проведено сопоставление результатов аттестации образцовых элементов методами эллипсометрии и импульсной фотометрии. Определены особенности временнхизменений фотометрических характеристик образцовых элементов в петролейном эфире и в атмосфере воздуха при нормальных условиях.