Измерение показателя преломления неоднородного просветляющего покрытия
Аннотация:
C помощью эллипсометрического и фотометрического методов выполнены измерения показателя преломления пленки на основе тетраэтоксисилана. Показано, что методом эллипсометрии возможно определить не только показатель преломления, но и выявить неоднородность оптического профиля.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Итерационный алгоритм определения координат изображений точечных излучателей
- Использование явления муара для увеличения точности дифракционных методов контроля геометрических параметров и пространственного положения объектов
- Особенности фоточувствительности лазерных фототерморефрактивных наностеклокерамик, активированных ионами редкоземельных элементов
- Модификация структуры халькогенидных стеклообразных полупроводников под воздействием фемтосекундного лазерного излучения
- Исследование двухлинзовых объективов-ахроматов как базовых элементов светосильных объективов приборов ночного видения