Статья ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ ПАРАМЕТРОВ ВЫРАЩИВАЕМЫХ НАНОРАЗМЕРНЫХ ГЕТЕРОСТРУКТУР Швец В. А., Рыхлицкий С. В., Спесивцев Е. В., Михайлов Н. Н.
Статья Наноструктуры на основе CdHgTe для фотоприемников Дворецкий С.А., Квон З.Д., Михайлов Н. Н., Швец В. А., Виттман Б., Данилов С.Н., Ганичев С.Д., Асеев А.Л.
Статья ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ МИЛЛИМЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА В ЗАДАЧАХ ДИАГНОСТИКИ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ Федоринин В. Н., Кузнецов С. А., Швец В. А., Аржанников А. В., Гельфанд А. В., Горшков А. Ю.