Журнал
Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики
УДК:
Номер:4 (20)
Скачать PDF0 Кбайт
Кратко рассмотрен перспективный метод анализа процессов — метод рекуррентных диаграмм. Уделено внимание реконструкции фазового пространства из одиночного ряда измерений, построению рекуррентных диаграмм и количественному анализу, основанному на их геометрических структурах.