Критерий устойчивости спектральных характеристик многослойных интерференционных покрытий
Аннотация:
Предложена методика определения устойчивости спектральных характеристик многослойных диэлектрических систем к возможным изменениям оптической толщины отдельных слоев. В основе методики лежит введенный критерий устойчивости синтезированных интерференционных покрытий. На примере распространенных четвертьволновых систем проиллюстрированы возможности методики для определения наиболее чувствительных слоев в структуре покрытия, выбора структуры покрытия и сравнительного анализа устойчивости структур.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Электронные спектры поглощения комплексов органических соединений с вырожденными по энергии молекулярными орбиталями
- Определение эффективного излучающего объема в эмиссионной спектроскопии протяженной среды
- Титан-сапфировый лазер, накачиваемый излучением второй гармоники неодимового лазера с продольной диодной накачкой
- Способ измерения деформаций волнового фронта до λ/8, вносимых афокальной системой большой апертуры
- Оптимальное оценивание положения центрированных в нуле гауссовских импульсных помех на изображениях
- Методика разработки математических моделей автоматических бортовых оптико-электронных систем
- Применение цифровой голографической микроскопии для исследования тонких прозрачных пленок
- Метрологические вопросы измерения температуры поверхностей бесконтактным методом ИК пирометрии
- Сравнительный анализ стабильности нерасстраиваемых сканеров
- Новые светорассеивающие ситаллы СОО-У6 и СОО-И8
- Коррекция спектральных характеристик отрезающих фильтров
- Исследование ориентационного порядка молекулярных цепей полистирола в поверхностных слоях тонких пленок методом наклонного поляризованного луча