Геометрические и оптические свойства афокальной двухзеркальной системы
Аннотация:
Установлена связь между математическими выражениями продольных аберраций нормалей поверхностей, образующих афокальную двухзеркальную систему (АДС), исправленную на сферическую аберрацию для осевого пучка лучей, получено обобщенное глобальное решение АДС. Разработан алгоритм для расчета наклонных меридиональных пучков лучей, идущих через АДС.
Ключевые слова:
Постоянный URL
Статьи в номере
- Основные погрешности контроля соосности с помощью авторефлексионной оптико-электронной системы
- Физическое моделирование двухволнового метода измерений в авторефлексионной оптико-электронной системе контроля смещений
- Разработка алгоритма и программы для расширения возможностей метода оценки качества изображения оптических систем
- Разработка и исследование интерферометра на основе схемы Ронки и программного обеспечения для расшифровки интерферограмм
- Исследование возможности построения трехкоординатной анаморфозной системы измерения параметров угловой пространственной ориентации
- Аберрационная структура пятна рассеяния в изображении точки при децентрировке элементов оптической системы
- Влияние перефокусировки изображения на структуру осевого пучка лучей
- Современные тенденции в оптических технологиях, применяемых для улучшения выходных характеристик оптических и оптико-электронных систем
- Новые разработки научной и медицинской аппаратуры на Красногорском заводе им. С.А. Зверева
- Разработка лазерных дальномеров-биноклей на Красногорском заводе им. С.А. Зверева
- Новый подход к разработкам оптико-электронных средств мониторинга околоземного космического пространства
- Акустооптический метод спектрально-поляризационного анализа изображений
- Получение особо чистых химических материалов для процессов химического, плазмохимического и пиролитического осаждения тонких оксидных слоев
- Совершенствование технологии сборки высококачественных призменных модулей методом глубокого оптического контакта
- Многоканальный прибор для дистанционной диагностики технического оборудования
- Панкратические прицелы с автоматической установкой углов прицеливания для современных снайперских комплексов
- Перспективы развития оптических систем для нанолитографии
- Защита от прямых засветок в системе звездного астрографа для Межпланетной стереоскопической обсерватории
- Оптико-электронная система для контроля смещений на основе реперных меток излучающих диодов
- Экспериментальное исследование реакции фоточувствительных элементов оптико-электронных приборов на импульсную засветку
- Дифференциальные рефрактометры для анализа прозрачных сред
- Сравнение температурных и электрических методов управления длиной волны излучения полупроводниковых лазеров