Статья ВЛИЯНИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ YLP–ЛАЗЕРА НА ВОЛЬТ-ФАРАДНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СИСТЕМЫ КРЕМНИЙ–ДВУОКИСЬ КРЕМНИЯ Халецкий Р. А., Фам К. Т.
Статья Исследование структурных дефектов межслойной изоляции в КМОП ИС Халецкий Р. А., Скворцов А. М., Семенов А. Е., Новиков С. Н., Фролкова Е. Г.
Статья Исследование пробивных напряжений межслойной изоляции в КМОП ИС Фролкова Е. Г., Халецкий Р. А., Скворцов А. М., Семенов А. Е., Новиков С. Н.
Статья Исследование структур типа Siп/к -SiO2-Si с окислами, полученными в различных режимах окисления Халецкий Р. А., Скворцов А. М., Семенов А. М.
Статья Исследование МОП-структур с окислами, полученными при различных режимах окисления Семенов А. М., Халецкий Р. А., Скворцов А. М.
Статья Некоторые особенности деградации МОП-структур под действием γ-излучения Скворцов А. М., Халецкий Р. А.
Статья Исследование гистерезиса вольт-емкостных характеристик структур кремний-окисел с поликремниевым затвором при воздействии ионизирующего излучения Скворцов А. М., Соколов В. И., Халецкий Р. А.
Статья Деградация структур Si-SiO2 с поликремниевым затвором при гамма-облучении в зависимости от напряжения смещения Скворцов А. М., Соколов В. И., Халецкий Р. А., Смирнов Ю. В.
Статья Исследование пострадиационного эффекта в МОП-структурах, облученных под напряжением Смирнов Ю. В., Халецкий Р. А.
Статья Влияние электрофизических параметров кремниевой подложки на гистерезис вольт-фарадных характеристик МОП-структур Халецкий Р. А.
Статья ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕФЕКТОВ СИСТЕМЫ Si/SiO2, ИНДУЦИРОВАННЫХ ЛАЗЕРНЫМ ВОЗДЕЙСТВИЕМ Кузнецова О. В., Фам К. Т., Халецкий Р. А.
Статья ВЛИЯНИЕ ПРОЦЕССА ЛАЗЕРНОГО МИКРОСТРУКТУРИРОВАНИЯ НА ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ СИСТЕМЫ SiO2/Si Скворцов А. М., Халецкий Р. А., Хуинь К. Т.
Статья МЕХАНИЗМ МИКРОСТРУКТУРИРОВАНИЯ СИСТЕМЫ SiO2/Si ПРИ ОБЛУЧЕНИИ СКАНИРУЮЩИМ ПУЧКОМ ИМПУЛЬСНОГО ВОЛОКОННОГО ЛАЗЕРА Скворцов А. М., Хуинь К. Т., Халецкий Р. А.